5月30日，2023中國世界光子發(fā)展大會暨太湖光子產(chǎn)業(yè)博覽會在獅山國際會議中心成功舉辦。本次大會由蘇州市政府、中國光學(xué)工程學(xué)會主辦，主題為“光領(lǐng)萬物 賦能未來”，旨在推動光子產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展，以光之名賦能千行百業(yè)。

光子產(chǎn)業(yè)被認為是高端制造業(yè)的核心，也是未來信息產(chǎn)業(yè)的基石。本次大會聚焦于光芯片、光顯示、光通訊、光制造、光醫(yī)療等領(lǐng)域的技術(shù)創(chuàng)新探討，以期共同推進光子產(chǎn)業(yè)生態(tài)的發(fā)展。

作為科技創(chuàng)新型企業(yè)，奕目科技受邀參展本次大會，現(xiàn)場展示了其核心產(chǎn)品光場相機及創(chuàng)新應(yīng)用案例。

奕目科技作為國內(nèi)首家全面掌握光場相機光學(xué)設(shè)計、微納加工、封裝制造、算法軟件等全鏈路核心技術(shù)的高科技企業(yè)，具備工業(yè)級光場相機規(guī)?；?、標準化量產(chǎn)能力，并且光場系統(tǒng)精度、速度國際領(lǐng)先。除上?？偛恐?，奕目科技先后在深圳、蘇州設(shè)立辦事處，以便快速、精準、高效地匹配客戶需求并完成服務(wù)交付。

在本次展會中，奕目科技現(xiàn)場展示了光場相機在工業(yè)檢測領(lǐng)域的應(yīng)用場景方案。

芯片金線的斷線、腳起、并線、墮線等種種缺陷可能導(dǎo)致芯片的百分百強制報廢。奕目科技的芯片金線三維檢測方案可通過單次拍照精準定位缺陷的種類和三維方位，從根本上防范芯片金線缺陷帶來的強制報廢問題。

檢測新能源電池板焊接工藝缺陷，檢測焊點是否存在針孔焊坑導(dǎo)致焊點不實，焊點異常，避免焊點導(dǎo)致電池安全隱患。奕目科技的檢測方案可通過單次拍攝精準定位缺陷的種類和三維方位，從根本上防范工業(yè)上各種缺陷帶來的強制報廢問題。

追光而至，不負此行。通過此次展會，奕目科技更加深入地了解了市場需求，同時還收到了一些專業(yè)協(xié)會、院校的合作邀請，為企業(yè)的發(fā)展提供了新思路和方向。奕目科技將繼續(xù)強化創(chuàng)新協(xié)同能力建設(shè)，提高產(chǎn)品的競爭力，為推動光子產(chǎn)業(yè)的高質(zhì)量發(fā)展做出更大的貢獻。